光学透射光谱
在光学和光谱学中，透射率是指入射光通过样品后通过样品的入射光比例参数。透射率以百分比表示，仅适用于透光材料。阻挡率是指入射光通过样品时，入射光不通过样品的比例参数。因此透射率+阻塞率=100%
光学和光谱学中，透射率是指入射光通过样品的入射光比例参数
浙江虹谱光色科技有限公司，自2014年成立以来，始终秉持着对光学检测技术的热情与专注，致力于为全球客户提供卓越、精准的光学检测设备。我们凭借持续的技术创新和不断优化的产品性能，已成为光学检测领域的佼佼者。 作为一家专业制造光学检测设备的厂商，虹谱光色科技始终将客户的需求放在首位。我们深知光学检测在科研、工业制造、环境监测等众多领域的重要性，因此，我们不断研发新型设备，以满足不同行业对光学检测技术的需求。我们的产品广泛应用于照明、农业、医疗、半导体、光电显示、科学研究、航空航天、国防军工 …
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HPG1200是CIE推荐使用的A-a型交通信号灯分布光度计，是根据ECE、SAE、GB. JIS、FMVSS108等标准设计，专用于测量交通行业的灯具，如交通信号灯、汽车灯、航标灯、航空障碍灯等灯具的光度性能测试。
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CX-2600/6100 是杭州虹谱光色自行研制的高精度成像亮度计，它采用SONY 背照式CMOS 传感器，两级 TEC 半导体制冷技术，可工作在设定的恒温环境，从而大幅降低了传感器的噪声，获得了极佳的信噪比， 测量结果不随环境温度变化
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GMS-1000眩光测量系统采用高精度成像亮度计，通过精密电控云台和专用测控软件实现了统一眩光指数UGR的高精度测量分析，测量稳定性好，速度快，且系统体积小、重量轻。系统自带电池，无需外部供电，使用USB线和电脑相连即可测试。
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拜尔式成像色度计是采用彩色相机+算法的原理来进行补偿修正亮度和色坐标，因为其光谱响应曲线和CIE标准完全不匹配，且没有太大的相关性，因此不能测试绝对的颜色和亮度。其滤光片原理和光谱响应曲线如下，和CIE标准完全不匹配。拜尔式是用4个像素的组合计算得到一个像素点的数据，因此需要4个像素相当于色轮滤光片式的像素。如6100万色轮滤光片式的像素9568×6380，对应拜尔式只相当于4784×3190=1526万像素(实际应用中会用算法得到更多的像素点，本质上是有像素损失的)。色轮滤光片式一次完整的色度测试过程需要切换X,Y,Z三个色轮，测试时间相对较长，拜尔式只需要拍摄一次即可，速度快和成本低是拜尔
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GON2000分布光度计根据CIE、IESNA.国家标准等要求,通过旋转灯具，实现 B-6、A-a和C-Y等多种测量方式。用于测量各类LED室内照明 灯具、投光灯具、道路照明灯具的空间光强分布及多种光度 参数。可双立柱或单立柱工作，配专用光谱分析仪可实现空间 色度特性测量。
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针对汽车发光配件模组总成和注塑件的光度和色度测试定制开发，可测量各发光部位的亮度L，色坐标X,Y、色温、主波长等参数。气动推出治具和打开屏蔽门，具备条码扫描、OK打点、NG箱及声光报警等功能。根据不同的需要选配不同型号的成像色度计或成像亮度计，定制相应的测试治具。
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本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。
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虹谱光色积分球均匀亮度源，工作原理是将多个光源均匀放置在积分球内壁，光源发出的光在球内壁上经过无数次的漫反射，最 终在积分球的出口平面形成一种十分均匀的漫射光，具有理想的朗伯余弦特性。这种光源在国防、科研、工业等领域有广泛应用
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CXS-2600/6100是杭州虹谱光色自行研制的高精度成像色度计，采用SONY背照式CMOS传感器，高精度匹配的CIE XYZ滤光片，两级TEC半导体制冷技术，可工作在设定的恒温环境，从而大幅降低了传感器的噪声，获得了极佳的信噪比，测量结果不随环境温度变化。可满足汽车、显示、照明、电子等行业的发光按键符号、发光键盘、屏幕背光等各种发光器件的测试需求，配套软件人性化设计。
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HPCS-320系列光谱分析仪，采⽤⾼速AMR处理器与⾼精度电⼦CCD光学传感器，利⽤⻓焦交叉⾮对称CT分光系统原理开发设计，具有设计轻巧、性能稳定、精确度⾼、性价⽐⾼、便于携带等特点，并配有3.5英⼨⾼清电容触摸显⽰屏让您像操作⼿机⼀样熟悉⾃如。完全颠覆了⽼式⾼精度光谱分析仪体积巨⼤、操作繁琐、价格⾼昂等理念。可随时随地进⾏光源参数的采样测量，⾼效的分析处理，具备极⾼的测量线性和准确度，⼴泛应⽤于家居、商场、学校、⼯⼚、⼤棚、⼾外等现场照明测量领域。也可⽤于光源产品的研发、产线质量监控等环节。也有⽤⼾在眼镜和珠宝⾏业使⽤反映良好。
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HPSR-3000 分光辐射亮度计(瞄点式)针对超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新时代分光辐射计。测量角1°量程扩大，对应0.0005cd/m2的超低亮度及高达500,000,000cd/m超高亮度，在测量超高亮度产品如LED等，不需要外挂ND即可测量。光学结构的更新，感度提升及内部系统改良，大幅缩短测量时间。此外采用彩色触控大荧幕，直观操作，操作性提升。
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