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CX-2500E成像辐照度测试系统

CX-2500E成像辐照度测试系统
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  • 产品介绍及参数

原理及应用

  CX-2500E采用在成像辐照度测试系统前放置半透成像膜，光源照射到白色半透膜上，在半透膜后面形成光源照射的辐照度分布，成像辐照度测试系统拍摄照度分布，经计算处理得到照射面的辐照度分布。应用于镜头成像特殊光源、小型紫外、可见光、红外LED光源等辐照度分布测量，小功率激光光斑成像质量分析等。

技术指标：

波长测试范围
 330-1000nm
辐照度范围
 0.1uW/cm2-1000 mW/cm2（可定制）
辐照度精度
 一级
测量尺寸
 106*106（其他尺寸可定制）
成像分辨率
 5120*5120
积分时间
 35us-10s
辐照度测量允许误差
 ±8%
辐照度重复性（标准A光源下）
 0.8%
分辨率
 0.1mW/cm2
供电与通讯
 USB3.0

选单

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